La emisión de rayos X inducida por partículas (PIXE, Particle Induced X-ray Emission) es una técnica analítica que combina principios de la física nuclear, la espectroscopía de rayos X y el análisis de materiales. Este método permite la determinación cuantitativa y no destructiva de la composición elemental mediante la detección de los rayos X característicos emitidos tras la ionización de las capas internas de los átomos por el impacto de partículas pesadas. En este seminario se presentará una revisión de los fundamentos físicos y teóricos de la técnica PIXE, discutiendo la interacción entre el haz incidente y la materia, la sección eficaz de ionización, el rendimiento de fluorescencia y los factores de atenuación y geometría de detección que determinan la intensidad medida. Finalmente, se abordarán las aplicaciones contemporáneas del PIXE, incluyendo la caracterización de tejidos biológicos, la detección de trazadores metálicos y el estudio de nanopartículas con interés diagnóstico y terapéutico. Este recorrido permitirá apreciar cómo la técnica PIXE ha evolucionado desde su concepción en laboratorios de física nuclear hasta convertirse en una herramienta de alta precisión en la investigación moderna.