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Fluorescencia de rayos x
Caracterización de materiales mediante fotones y electrones
Apuntes de clase 2009 - Gustavo Castellano
Fluorescencia de rayos x
Interacción de fotones con la materia
Dispersión Rayleigh o elástica
Dispersión Compton
Efecto fotoeléctrico
Sistemas de detección
Análisis cualitativo
Análisis semicuantitativo
Análisis cuantitativo
Método de Rousseau
Lachance-Traill.
Claisse-Quintin.
Rasberry-Heinrich.
Curvas de calibración
Incertidumbres en un análisis
Errores aleatorios
Errores sistemáticos
Tiempo muerto.
Corrección por efectos de matriz.
Límite de detección mínima
Métodos alternativos
Estándar interno
Adición de estándares
Dilución
Microanálisis con sonda de electrones
Interacción de electrones con la materia
Interacciones elásticas
Interacciones inelásticas
Bremsstrahlung
Las señales detectadas en una microsonda
Electrones retrodifundidos.
Electrones secundarios.
Electrones Auger.
Espectro de rayos x.
Distribución de ionizaciones
Intensidad de rayos x emitidos
Partículas y muestras rugosas
Algunos modelos de corrección
Gaussiana modificada
Modelo parabólico
Modelo cuadrilateral
Aspectos instrumentales y experimentales
Alineación del haz.
Control de la corriente del haz.
Portamuestras.
Vacío.
Preparación de las muestras.
Daño por irradiación.
Elección de las condiciones experimentales.
Detectores de electrones.
Técnicas complementarias
XRF con Radiación de Sincrotrón
Características principales
Dispositivos de inserción
Excitación con espectro continuo
Excitación con haz monocromático
XRF por Reflexión total
Parámetros característicos de la reflexión total
Ángulo crítico
Reflectividad
Profundidad de penetración
Diseños experimentales
Sistemas de detección
Espectrómetros dispersivos en longitudes de onda
Detectores de rayos x
Resolución en energía.
Picos de escape.
Tiempo muerto.
Espectrómetros dispersivos en energías
Resolución en energía
Eficiencia de un detector
Picos de escape.
Fluorescencia interna.
Picos suma.
Tiempo muerto.
Gustavo Castellano
15/05/2009
